全(quan)自動微(wei)生(sheng)物(wu)質(zhi)譜檢(jian)測(ce)系統(tong)(CMI-3800)是(shi)禾(he)信康(kang)(kang)源(yuan)(yuan)在全(quan)面掌握核心技術和先進制造(zao)工藝下，完全(quan)自主、正(zheng)向研發的(de)一款(kuan)基于基質(zhi)輔助(zhu)激(ji)光(guang)解吸(xi)電離法的(de)質(zhi)譜檢(jian)測(ce)系統(tong)。本產(chan)品在禾(he)信康(kang)(kang)源(yuan)(yuan)原有儀(yi)器基礎上提升(sheng)硬件配(pei)(pei)置、出(chu)廠精度調校、配(pei)(pei)備更晚上數(shu)據庫(ku)、提供(gong)更多(duo)軟件模塊，滿足高端用戶微(wei)生(sheng)物(wu)常見鑒定、數(shu)據分(fen)析、核酸檢(jian)測(ce)、科研需求。
Product principle
基質輔(fu)助(zhu)激光解吸(xi)電離(li)(MALDI):
將(jiang)分(fen)析物分(fen)散(san)在基質(zhi)分(fen)子(zi)中并形成(cheng)共結(jie)晶，當用(yong)激光(guang)照(zhao)射晶體時，樣(yang)品分(fen)子(zi)獲得能量解吸(xi)附，同時基質(zhi)離(li)子(zi)通過電(dian)荷轉移使樣(yang)品電(dian)離(li)。
飛行時(shi)間質(zhi)譜(TOF-MS):
離(li)子在電(dian)場中(zhong)加(jia)速后(hou)進入無場區自由飛行(xing)，根據到達檢測(ce)器的(de)飛行(xing)時間(jian)(jian)不同而被檢測(ce)，即通過測(ce)定離(li)子的(de)質(zhi)荷(he)比(m/z)與離(li)子的(de)飛行(xing)時間(jian)(jian)成(cheng)正比來檢測(ce)離(li)子。
Features and advantages
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